衍射儀附件
多功能樣品架
發(fā)明專利號：200810010370.8
多功能樣品架
隨著材料研究的深入，越來越多的板材、塊狀材料及基體上的膜也要求用X射線衍射儀進行性能分析。在測角儀上安裝多功能樣品架可以進行織構(gòu)、宏觀應力、薄膜面內(nèi)結(jié)構(gòu)等測試，每一種測試功能都有相應的計算軟件。
碾軋板（鋁、鐵、銅板等）織構(gòu)測量及評價
金屬、陶瓷等材料殘余應力測量
薄膜樣品晶體優(yōu)先方位的評價
大分子化合物取向測量
多功能樣品架用于織構(gòu)樣品測量，軟件計算后分別繪制出極圖、反極圖、ODF圖。
多功能樣品架用于宏觀應力樣品測量，在-30-90°內(nèi)設置幾點Psi角度，使樣品傾斜相應角度。在不同的Psi角度下，分別測量指定晶面的角度偏移量，計算出測量樣品的宏觀應力。
